Для исследования кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий, промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определяют качественный и количественный фазовый состав и структуру твердых тел, параметры элементарной ячейки, микронапряжения в кристаллах.
Карточка СИ
| Номер в госреестре |
21685-01 |
| Наименование СИ |
Дифрактометры рентгеновские
|
| Обозначение типа СИ |
D8 Advance, D8 Discover |
| Изготовитель |
"Bruker AXS GmbH" |
| Год регистрации |
2001 |
| Срок свидетельства |
01.07.2006 |
| МПИ (интервал между поверками) |
1 год |
| Описание типа |
скачать |
