Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей и отображения на экране внешнего персонального компьютера (ПК) вольтамперных характеристик (ВАХ) исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основестандартных параметров исследуемого объекта, формирования и заполнения отчета о полученных результатах, для межоперационного контроля параметров тест-структур на полупроводниковых пластинах в процессе производства в электронной промышленности, анализа брака, а также исследований ВАХ при разработке новых изделий и технологий, возможно использование приборов при входном контроле или для подбора полупроводниковых приборов по заданным параметрам.
